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특허 (Patent)
29
Patent (블랭크 위상변위 마스크 시료의 위상변위 측정장치)
28
Patent (고배율 광학계를 적용하는 마이크로 스폿 분광타원계의 왜 곡 보정 및 적용 방법)
27
Patent (편광자 연속 회전 광량 측정 방법)
26
Patent (연속 측정 가능한 분광 타원계)
25
Patent (분광 타원계를 이용한 표면 검사장비)
24
Design Patent (PAS)
23
Patent (4-반사경을 적용한 마이크로 스폿 분광 타원계)
22
CE인증서-ELLI-RET-AAL
21
CE인증서-Ellipso Meter
20
벤쳐기업확인서
19
INNO-BIZ
18
Corporate research institute
17
Patent (JAPEN)
16
Patent - 터치스크린 패널 ITO 패턴 검사 방법
15
Patent (텍스처가 형성된 시료의 막두께 측정방법)
14
Patent (배향막의 배향 상태 측정 장치 및 측정 방법)
13
Patent (마이크로 스폿 분광타원계)
12
Patent (광투과 에지영역에서의 광투과율을 이용한)
11
Patent (수직 편광판을 이용한 3차원 소광구조)
10
Patent (편광판의 흡수축 틀어짐 측정 방법)
9
Patent (편광판과 위상지연판이 접합된 시료의 광축)
8
Patent (엘시디 유리기판의 굴곡측정장치)
7
Patent (PDP 상부 유리기판의 MgO 보호막 두께 측정장치 및 그 방법)
6
Patent (노(爐) 내부 감시용 결상 광학계)
5
Patent (초고속 분광 타원계)
4
Patent (진폭분할 편광측정기를 사용한 초고속 타원계)
3
Patent (개선된 고속 푸리에 변환을 이용한 막두께 측정 장치 및 방법)
2
Patent (회전검광자형 insitu 타원계)
1
Utility Model Patent (실용신안 - 고속 분광타원해석기)
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